基于微处理器的RFID设计中，ROM中可能不包含任何加密的密钥信息，但是它的确包含足够的I/O、存取控制、加密程序等信息，这些在非破坏性攻击中尤为重要。因此，对于使用微处理器的RFID设计，推荐优先使用FLASH或EEPROM等非易失性存储器存放程序。
2.5.2 非破坏性攻击及防范策略
非破坏性攻击主要针对具有微处理器的产品而言。微处理器本质上是成百上千个触发器、寄存器、锁存器和SRAM单元的集合，这些器件定义了处理器的当前状态，结合组合逻辑则可知道下一时钟的状态。常见的非破坏性攻击主要有电流分析攻击和故障攻击。
（1）电流分析攻击及防范措施
根据电流分析攻击实施的特点，可将其分为简单电源攻击（SPA）和差分电源攻击。原则上，RFID的电源集成在AFE的内部，似乎远离了电流分析的危险，然而实际上并非如此。通过在RFID天线和串联的分压电阻的两端直接加载符合规格的交流信号，RFID负载反馈信号可以百倍于无线模式下的信号强度直接叠加在加载的交流信号上。由于芯片的功耗变化与负载调制在本质上是相同的，因此，如果AFE的电源设计不恰当，则RFID微处理器执行不同内部处理的状态可能在串联电阻的两端交流信号上反馈出来。
针对于电流分析攻击的特点，芯片的功耗是个重要的问题，就工作效率而言，串联方案的效率更高，更适合集成电路设计。但是就安全而言，并联方案是更理想的选择，因为通过并联泄放电路将电源幅度和纹波的变化控制在尽可能小的范围内，使电源电流消耗波动抑制在整流电路之后。这样天线两端的交流信号不能反应任何内部基带系统（主要是微处理器）状态的差异。
（2）故障攻击及防范措施
通过故障攻击可以导致一个或多个触发器位于病态，从而破坏传输到寄存器和存储器中的数据。在所知的RFID标签芯片非破坏性攻击中，故障攻击是实际应用中最有效的攻击技术之一。