然后，对出现频率不同的信号标注以不同的颜色，所有时间段FFT分析频谱组合成完整的频谱。
辐射与偶发的辐射会以标注不同的颜色进行区分。使用不同颜色标示技术的频谱分析能够完美的展示出EMI辐射出现的类型和频率。
加窗FFT技术使用户可以通过在被捕获的信号上自定义一个时间窗口，仅对时间窗口内的信号进行FFT分析，并且通过滑动这个窗口，分析出每一段时域信号与频谱的对应关系。例如，可以使用该技术分析由于开关电源的晶体管过冲导致的EMI问题。确认问题点之后，用户可以迅速对整改后的效果进行验证。
在分析杂散的辐射问题时，模板工具也非常有效。用户在频域定义模板，并对违规信号做相应的设置，这样就可以准确地判断是哪些信号造成了频谱违规。甚至对已经捕获的信号，用户也可以调整FFT参数，例如加窗的大小以及频率分辨率等。如此强大的功能使用户可以对很难捕获到的EMI辐射进行仔细的分析。
R&S RTO示波器凭借其丰富的捕获特性和分析特性，为示波器树立了一个新的标杆。同时，配合以丰富的附件，例如R&S HZ-15近场探头，提供了一整套完善的EMI诊断方案。
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