开关的寿命一般要求能够动作上万次，有的甚至几十万次，用传统的测试方法完成开关的测试至少存在以下两点不足：一是测试效率极低，因为要使测试人员能正确观察到多个指示灯（开关的触头一般有多个）状态的变化，开关动作的速度就不能过快，测试寿命上万次的开关需要的时间要几个小时，测试寿命几十万次的开关需要的时间要以天来计算；二是多个指示灯长时间的快速亮灭极易损伤测试人员的眼睛。由于这些不足，开关的生产厂迫切需要开关寿命的自动测试系统来取代传统的测试系统。
2 开关寿命的自动测试原理
开关寿命自动测试的原理图如图2所示。当触头K1闭合时，A点的电位应是高电位，当K1断开时，A点的电位应是低电位，因此图中A、B、C、D和E点的电位指示和对应指示灯的作用一样，可以用来指示触头的闭合或断开。从电平的角度来看，当A点是高电位时，A点输出高电平，指示K1闭合；当A点是低电位时，A点输出低电平，指示K1断开。因此，可以由数字量采集装置采集A、B、C、D和E处的电平，将这些电平信号输入到计算机中，由计算机中运行的专门程序判断各点的电平是否按要求改变，进而判断开关的触头是否正确断开或闭合。
3 开关寿命测试仪的设计
3.1 测试仪的硬件设计
测试仪的硬件原理图如图3所示，包括开关负载箱、LPC2138CPU和TG12864液晶显示模块。
开关负载箱的功能是，模拟开关的工作环境，输出能反映触头开闭状态并能被LPC2138CPU芯片采集的开关量。由于不同类型的开关使用的环境不同，有的使用在直流环境中，有的使用在交流环境中，甚至有的开关使用在大电流环境中，因此为了真实反映开关的工作情况，不同的开关应使用不同的负载箱，但各种负载箱的电路原理都与图2中虚线框部分相同。为减小干扰，在每个开关量信号的输出端并联一只104电容。