d.如果D2等于0，则各触头正常；
e.如果D2等于ffffffff，则各触头正常，开关的状态已经转换，开关动作的次数增加1；
f.如果D2等于0到ffffffff之间的任何数，表示有触头损坏，开关的寿命等于到此时开关动作的次数。
（2）判断触头损坏的算法
为了帮助工程技术人员查找问题，测试仪在测量出开关寿命的同时，还要能够判断出是哪些触头损坏，因此有必要设计一个判断触头损坏的算法进一步判断哪些触头损坏。方法如下，当异或运算结果不为0及ffffffffh时，必然某些二进制位为0，而另一些二进制位为1。从生产实践得知，开关的触头很少一起损坏，一般是较少的几个触头先损坏，这样就可以通过比较为0的二进制位数与为1的二进制位数来决定哪些位对应的触点损坏，比如，如果异或运算结果D2为“10000000011000000000000010000000”，则为0的位有28位，为1的位有4位，因此可以判定，为1的位对应的触头是坏触头，共有4个。由以上的方法得到下面判断触头损坏的算法：
a.计算D2中为0的二进制位的位数N0；
b.计算D2中为1的二进制位的位数N1；
c.如果N0》N1，则为1的二进制位对应的触头是坏触头，共有N1个，否则为0的二进制位对应的触头是坏触头，共有N0个。
（3）软件流程图
根据以上的测试算法，可以设计出实现开关寿命测试及触点好坏判断的软件流程图，如图4所示。count是开关寿命计数器变量，开关每正确动作一次，count增加1，开关损坏时count值就是开关的实际寿命。D0和D1是连续两次采集的数据。
4 结束语
在本项目中，基于嵌入式技术来设计开关寿命测试仪的硬件，比采用工控机＋采集卡的方案节约成本，而且携带方便。通过使用专门的算法来实现开关寿命的测试，提高了测试效率和测试精度。在某航空集团的应用表明，该测试仪工作可靠、容易使用，适合在开关生产行业推广应用。