存储器推动测试设备需求
存储芯片与逻辑芯片的测试区别。存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确，这些测试主要用来确保芯片不包括以下错误：存储单元短路、存储单元开路、存储单元干扰等。由于存储单元类型多样化，存储器内部还有大量的模拟部件，其中一些部件不能直接进行存取操作，而且存储器的每一个单元可能处于不同的状态，按逻辑测试方法测试需要庞大的测试图形，这些特性决定了存储器测试要求与模拟电路和数字电路不同。存储器芯片测试时使用测试向量进行错误检测，测试向量是施加给存储芯片的一些列功能，即不同的读和写的功能组合。
存储测试系统需求由存储芯片扩产驱动。存储器是一个周期性极强的产业，强于半导体产业整体周期性。下游需求的周期波动、市场份额集中的格局、产品的标准化属性导致存储器行业历史上容易出现大幅的波动。由于存储器行业的强周期性，行业的资本开支也呈现较强的波动，从而导致存储测试系统需求的周期波动。
在 2007 年之前，存储器测试还占据全部半导体自动测试设备市场的 30%~40%；在 2008 年金融危机后，虽然到 2010 年存储器产品销售额已有良好的恢复，占半导体总市场的比重恢复至 2006-2007 年水平，但存储器测试设备的市场已经进一步被侵蚀，2009 年存储器测试设备比重降至 11%左右，此后存储器测试设备基本在 17%~22%之间。
由于 2017-2018 年存储器行业需求高景气，国际存储器巨头纷纷扩产，推动了存储测试系统的快速增长。根据爱德万年报，2017-2018 年全球存储 ATE 销售额分别为 7.5 亿美元、11.5 亿美元。2019 年由于下游存储器行业景气下滑，对存储测试系统的需求也受到较大影响。根据爱德万年报，2019 年全球存储 ATE 市场 6.5 亿美元。