内存长度对抖动测试的影响
影响JNF的另一个因素是在测试结果中包括的抖动噪声的频段。所有抖动都具有不同的频率分量，其通常从DC直流到高频部分。因为抖动测试的频率范围是由示波器的高速采集内存的大小决定的，它是单次采集时间窗口的倒数（单次采集时间窗口=高速内存长度×采样间隔时间）。例如，泰克TDS6154C在40GSa/s时实现了64 M的高速采集内存，即一次触发能够以25ps的时间间隔连续采集64M个样点，得到单次采集时间为1.6ms，因此它能够测量最低到625Hz的抖动。在示波器中测量JNF时，还应指明该指标包括的频率范围。泰克示波器一般标称的是在最长记录长度和高采样率下的JNF。
当使用示波器进行抖动测试时，高速采集内存长度是示波器进行抖动测试的关键指标。在示波器的前端放大器和采集电路后面跟随着高速存储电路，它存储ADC转换的采样点。高速内存长度不仅决定了一次抖动测试中样本数的多少，还决定了示波器能够测试的抖动频率范围。表1显示了20GSa/s高采样率下，不同内存长度分析抖动频率范围的大小。
传统示波器设计时采用将高速采集前端（多达80颗ADC）和高速内存在物理上用一颗SoC芯片实现，由于有太多功能在一个芯片内部，导致片内高速内存容量的限制（在40GS/s下一般小于2M），只能测量直到20KHz以上的抖动，并且当需要测试低频抖动时，无法对内存扩展升级。对于大多数应用，测试和分析625Hz到20KHz范围内的抖动信息非常重要。为了弥补这种设计结构的缺陷，这类示波器会采用外部的低速存储器弥补片内高速内存，但外部存储器不能在高采样率下工作，一般只能提供2GS/s，无法提供有意义的抖动测试结果。
TDS6154C采用硅锗（SiGe）半导体集成采集前端，并使用专用的高速存储器。它同时支持最大的带宽，采样率和存储长度。例如，当使用40GS/s实时高速采集时，512K内存一次采集数据量仅为12.5us，只能测试频率范围为80K以上的抖动。在各种串行总线和时钟抖动测试中都很难满足测试要求。