为了将使空闲时间减到最小，先进的测试设备支持基于每个周期和每个通道的双向通信。先进的测试仪器可以在一个时钟周期内从存储器读取并比较数据，而无需让存储器件停下来重新配置，或把数据传输到PC上进行比较。随着基于FPGA的仪器的应用增多，除了0和1之外，新型和现有硬件还支持逻辑状态的测量。为了验证来自存储器的数据，测试向量利用特定的状态来定义何时数字仪器应该主动接收数据以及期望响应值是什么。例如，国家仪器公司的PXI- 6552数字波形发生器/分析仪利用能支持6个不同通道状态的FPGA，根据测试向量中的数据重新配置仪器的行为。
图2. “进位置1”模式。
随着存储器技术的发展，改变测试模式和存储器芯片的测试方法变得日益重要。通过采用可置于桌面的基于PC的测试仪器，工程师就能够获得所需要的灵活性和用户定制特性。
超越功能测试
在一项设计成功通过所有功能测试之后，工程师能够获得被测器件更详细的特性。公共测试包括描述存取时间和电器规范的特征，例如电压范围。采用模块化测试平台（例如PXI）的工程师可以扩展他们的测试系统，以包括更多的仪器，如数字化仪、数字万用表和RF仪器。PXI还提供内置功能，例如为仪器间的相位一致性提供定时和同步功能，并具有构建高通道数测试系统的能力。
采用数字仪器，如NI 6552数字波形发生器/分析仪，工程师可执行存储器件全部特征的提取，而无需增加额外的测试设备。采用NI LabVIEW这样的软件，工程师能够创建一个测试，扫描用于与存储器件通信的电平以验证最小工作电压。图3所示在LabVIEW中这种测试的结果。其中，水平轴表示被测电压，垂直轴表示接收到的错误位百分比。从图中很容易推出存储器件的最小工作电压为2.43V。