目的：这是功能测试，地址解码测试和干扰测试一个极好的向量。如果选择适当的时序，它还可以很好地用于写入恢复测试。同时它也能很好地用于读取时间测试。
其他的测试向量都类似于以上这些向量，都基于相同的核心理念。
动态随机读取存储器（DRAM）
动态随机读取存储器（ DRAM）的测试有以下的一些特殊要求：
1.行地址和列地址在相同的地址线上输入（行列地址复用）。他们分别通过RAS和CAS信号来锁存。
2.需要在固定的时间间隔内对芯片进行刷新。
3.DRAM能够进行页操作。因此需要保持行地址不变而改变列地址（或者相反）。
逻辑测试介绍
逻辑芯片功能测试用于保证被测器件能够正确完成其预期的功能。为了达到这个目的，必须先创建测试向量或者真值表，才能进检测代测器件的错误。一个真值表检测错误的能力有一个统一的标准，被称作故障覆盖率。测试向量与测试时序结合在一起组成了逻辑功能测试的核心。
测试向量
测试向量—也称作测试图形或者真值表—由输入和输出状态组成，代表被测器件的逻辑功能。输入和输出状态是由字符来表示的，通常1/0用来表示输入状态，L/H/Z用来表示输出状态，X用来表示没有输入也不比较输出的状态。事实上可以用任何一套字符来表示真值表，只要测试系统能够正确解释和执行每个字符相应的功能。
测试向量是存储在向量存储器里面的，每行单独的向量代表一个单一测试周期的“原始“数据。从向量存储器里输入的数据与时序，波形格式以及电压数据结合在一起，通过pin electronIC电路施加给待测器件。待测器件的输出通过pin electronic上的比较电路在适当的采样时间与存储在向量存储器里的数据进行比较。这种测试被称作存储响应。