测试结果
TetraMAX生成的测试向量共有324个，其位数为359b。测试覆盖率达到92.86%。扫描器件的使用以及与DFT相关的附加逻辑的加入，导致了芯片面积的增长，据输出报告可知，采用DFT技术后，芯片面积增加了大约13%。
结语
通过两种测试方法的对比，可以看到，不采用DFT技术，不必增加逻辑，但仅使用功能验证时的测试激励可能无法达到要求的故障覆盖率，而且测试深度（生产测试用向量）也容易超过测试机的存储量。本文对该控制芯片进行测试时，如果不采用DFT技术，虽然测试覆盖率可以达到80%以上，但测试向量却高达80多万，若以人工的方法修改测试向量，将大大延长芯片开发周期，推迟芯片上市时间。采用DFT技术虽然增加了芯片面积，但可以自动生成高效简洁的测试向量，且故障覆盖率能达到90%以上，极大地提高了芯片的测试效率，降低了测试成本。
责任编辑：gt
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