1 A/D转换芯片的测试环境构成
1.1 硬件构成
测试系统的硬件框图如图1。该系统的工作原理是：在SUN工作站运行的测试程序通过GPIB接口程控任意波形发生器产生所需要的测试波形；由数字电路测试系统产生测试A/D转换芯片所必需的数字激励并获取数字响应信号。在测试过程中，每次启动A/D转换的同时提供任意波形发生器的时钟脉冲信号，保证测试的同步进行，同时读入A/D转换器的数字输出信号;测试完毕后从数字电路测试系统的内存中读出转换数据，并进行处理。
高分辨率A/D的测试对测试系统本身的噪声性能有较高的要求。测试系统必须具有分辨小信号的能力，如果系统噪声太大，滤波不干净，就会扭曲测试结果，甚至无法进行测试。我们使用的数字测试系统为IMS公司的ATS60E测试系统，信噪比可达到90～124dB，可以测试16 Bit音频A/D，完全可以满足测试的要求。而且系统除了图表化的编程界面外，还提供Labview以及C语言的编程环境，很容易对测试过程进行控制。
任意波形发生器内部的存储空间存储数字化的波形，输出时通过D/A将数字信号转化为模拟信号。一般来说，输出频率和分辨率两个指标不可兼得。可以根据测试的A/D品种选择高速、低分辨率或低速、高分辨率的设备。对普通的音频A/D来说，Pragmatic 2711（16位，2MHz）是较好的选择。任意波形发生器产生的A/D常用测试波形一般有斜波（或三角波）和正弦波两种：斜波主要用来测量静态参数，正弦波用来测动态参数。在任意波形发生器后接高阶有源滤波器，以平滑由于波形发生器内部D/A存在量化误差所产生的测试波形上的锯齿，减少测试信号的失真。对高频电路测试，一般的测试系统阻抗都为50Ω，要充分考虑到阻抗匹配的问题，以保证信号的最大通过和最小反射。