探头 “事后连接” 的适应测试能力未融入设计的系统。此时您需要用包括各种互连附件（焊接、抓钩等）的探头触针实现连接。最常用的“事后连接”探头是飞线探头（图1b）。
在讨论各种探头结构形式的优缺点前， 先了解您在把逻辑分析仪接到系统时会遇到的一些问题。
图1. 这些照片对“设计中包括连接”的探头和“事后连接”的探头进行比较。Agilent E5390A 新软触无连接器探头的连接方案 （a）。在这种情况下，用户必须在初始设计中布放承接焊盘。Agilent E5381A是对未事先规定测试能力的信号的一种可能连接方法 （b）。
提示2探头负载
您要设法尽可能减小探头对系统呈现的电气负载。如果探头极大改变了系统性能， 它就不能帮助您验证系统; 因为故障可能完全是因探头引发。负载主要有两方面影响。首先是降低目标电路板上的信号质量， 并进而导致系统故障。其次是降低送入逻辑分析仪的被观察波形质量。这会在验证中导致错误的否定结论。为避免这些问题， 您必须了解探头的结构。
逻辑分析仪探头有高输入阻抗。探头触针电路包括一个20kΩ量级的触针电阻器。低频时的探头阻抗接近该阻值。随着频率的上升，探头的寄生电容开始降低它的阻抗。阻抗沿标准RC响应滚降。这可能造成目标系统的问题; 当探头阻抗开始接近系统阻抗时， 由探头构成的电压分压器起着实质性的作用。低阻抗将吸收大量电流， 从而造成系统故障。
探头中的电容主要与连接器有关。例如若目标信号与探头触针电阻间有大的连接器， 该连接器就会把大电容加到探头负载中。使用小的连接器可减小这一电容量。