信号探测问题
由于新的更快速的嵌入式系统总线及其相关信号完整性问题的出现，我们必须重新安排设计周期。如今，数字设计工程师必须在设计周期的更早阶段就开始考虑设计的测试和调试。在设计周期中，导致任务分配产生变化的根本原因就是在现代嵌入式系统的探测中出现了新的挑战。过去，一个系统的测试和调试是在设计过程的最后阶段才考虑的，然而，若要满足上市时间的要求，就必须对当今这些高性能嵌入式系统的设计过程进行重新考虑。现在，在设计周期的初始阶段，设计者就需要考虑在哪里进行探测、使用哪种类型的探头。
探测高速信号的边缘需要高阻探头，为满足这种需要，逻辑分析仪制造厂商提供了一种电容小于半皮法的探头。最新的有源硅／锗低阻无座探头，它为今天的设计师们提供了测试和调试现代嵌入式系统时所需要的探测特性。由于许多原因，标准的逻辑分析仪连接系统所带来的好处对嵌入式系统工业而言十分重要。
新的紧凑式PCB无座引脚所具有的占地小的特点使开发人员能够采用一种低成本的连接来进行产品开发和产品测试。此外，这带来的一个更大的好处则是示波器上也可以使用逻辑分析仪探头，从而允许开发者在一台逻辑分析仪的显示屏上同时看到数字信号和相应的模拟信号。这一功能对于发现微小的信号完整性问题和调试边沿变化快的嵌入式系统，均十分重要。
为了检测现代系统中如地弹（ground bounce）、串扰和阻抗失配等信号完整性问题，最佳方案是采用能够同时观察数字和模拟信号的仪器。
应用软件
速度最快的硬件如果不能配以同样优秀的软件，必然会阻碍其性能的发挥。因此我们也提供了一套新的基于视窗的应用软件包。新的5.0版TLA应用软件将过去通过人工完成的许多测量任务自动化，而且还提供了边沿计数、频率测量、脉宽测量和通道－通道延迟测量等新的参数测量功能，因而开发人员能够更快地验证和调试其设计。