OFDM符号包含特定的被称为“导频”的副载波，“导频”能帮助接收机跟踪到CPE，同时估计出传输信道的频率响应。这些“导频”并不会改善ICI，但它仍然会影响EVM。这会导致相位噪声对OFDM的影响略微不同于对传统的QPSK信号的影响，但是相位噪声仍然是信号恶化的一个重要原因。
对于64-QAM调制的OFDM来说，对发射机输出端的EVM的要求非常严格：均方根的典型值是2.7%左右。这就是为什么本振的相位噪声和抖动对于本振锁相环（PLL）的设计很关键的原因。要实现均方根2.7%的EVM，我们推荐将总相位抖动均方根值低于1°作为选择合成器的标准。
测量相位噪声
由于相位噪声对EVM有如此重要的影响，所以在开发过程中检验本振的相位噪声性能就非常关键。虽然低成本设备（比如用户设备或者毫微微蜂窝设备）的生产测试次数较少，不允许进行这种深入测试，但是相位噪声测量功能却有助于过程监控和排除生产问题。
在频谱分析仪中，通过观察信号的“边缘”，可以很容易看到相位噪声。频率相当缓慢的倾斜就显示了相位噪声（见图2）。然而这幅频谱分析仪的图并没有显示抖动强度有多大。
现代的频谱分析仪可以很容易测量dBc/Hz为单位的相位噪声，或者以角度、弧度或者秒为单位的相位抖动。频谱分析仪的相位噪声测量适用于中等质量的合成器，比如在商用无线用户设备或者毫微微蜂窝设备中的合成器，甚至可能用在基站中的合成器中。在这里的示例中（见图3），频谱分析仪测量得到2.3GHz的信号在10kHz～5MHz范围内的抖动是0.1°，很明显，它完全可以胜任测量本振的工作。