-塑料无引线芯片载体封装（PLCC）
-四方扁平封装（TQFP， PQFP， LQFP）
-球门阵列封装（BGA）
注意：AT系列不受限于只能测试电子集成电路， 也可用于整个模块。
测试通道
标准提供多达128个测试通道， 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。
用两种模式扫瞄：
•一般模式： 扫描信号是以一固定管脚为参考点， 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式： 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点， 测试信号循环组合施加到待测元器件上。
数据库
用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。
结果比较型式：
将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较， 即可判定被测IC的好坏，提供两种比较型式：
•与数据库中元件比较： 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较： 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。
软件- 灵活性
1）软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库，
2）软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件
报告
1）软件可产生一详细的测量报告， 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2）用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出， 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3）为了今后使用方便， 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息， 包括：相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。