1）逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查不稳定的元器件。
2）逻辑电平阈值可以自动扫描，确定板系统逻辑电平阈值临界值，设定循环测试来发现不稳定的错误。
逻辑电平阈值自动扫描：逻辑高低电平是一个范围，该种方法是确定集成电路在板系统中能通过的电平具体数值，该数值能反映出集成电路驱动能力的下降问题，方便查找驱动能力下降的器件。
8.特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性（配合同步脉冲）
•可设定同步脉冲信号的宽度，进行可控硅元器件或FET的功能测试。
•测试时将设定好的方波同步到测试信号中，可以观测到三端器件开关时间特性的差异，图中是高频状态，器件的开关时间参数出现问题，图中的差异体现了开关时间的问题。
9.V-I曲线矩阵测试
分别以每个管脚为公共端进行V-I测试，可针对管脚间的阻抗曲线进行测试发现管脚间的阻抗差异，使测量的信息更全面准确。
10.具有分立器件功能测试
1）模拟集成电路测试功能：可对模拟放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应管、场效应晶体管场效应晶体管场效应晶体管光耦器件、AD/DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。