在车辆部件的EMI测试中，根据不同车辆厂商所提出的不同要求，除了引入干扰信号的基本方法有所不同以外，还有许多参数也会有所不同。但不论RF干扰怎样产生，这些参数都是相关的。
频率范围
受测试方法本身及其所用换能器（transducer）的限制，上述的每一种方法都只适用于一个既定的频率范围。表2列出了本文中讨论的各种方法在相应标准中公布的适用频率范围。测试过程中，通常需要使测试信号在整个频率范围内扫描变化或步进变化，监测此时EUT与其应有功能和性能的差异来得到测试结果。每次测试的最小滞留时间一般为2秒，如果EUT的时间常数较大，滞留时间可能更长。如果采用软件控制的测试信号发生器，那么测试信号通常不是扫描过整个频率范围，而是采用步进方式，因此还要定义频率步进的步长。滞留时间和频率步长二者共同决定了执行单次扫描所需花费的时间，从而也决定了整个测试所需的时间。
幅度控制
不论采用哪种测试方法，对施加在EUT上的测试信号幅度都必须小心控制。幅度控制的方法按照原理不同通常可分为两类，一类叫闭环控制法，一类叫开环控制法。在带状线测试和TEM单元测试时，可以通过已知的净输入功率和传输线的参数来计算得到的场。但除了这两种方法以外，都需要利用闭环法来实现幅度控制。在辐射干扰测试中，干扰信号的单位采用伏特/米（volts/meter），在电流注入测试中，单位采用微安（milliamps），在直接功率注入测试中，单位采用瓦特（watts）。
闭环法
不同测试方法在不同标准中的适用频率范围。
采用闭环控制法时，一个场强仪或电流监控探头一直监测着施加在EUT上的激励，据此将功率调整到目标值。该方法存在一个问题，那就是EUT的介入打乱了我们用作干扰激励的电磁场，因此找不到一个能够正确反映出我们得到的场强，并对所有类型EUT普遍适用的位置来放置场强仪，在微波暗室中进行辐射干扰测试时这一问题尤其明显。当测试频率使得EUT尺寸与波长可以相比拟时，在某些位置上场的分布可能会出现大幅下降。如果场强仪刚好放置在一个这样的位置上，那么当我们根据场强仪的读数来维持需要的电磁场强度时，势必会在EUT附近的位置上造成严重的过测（over-testing）。BCI测试中也存在类似问题，当EUT的共模输入阻抗与测试信号谐振时，要维持需要的电流就会造成过测（over-testing）。实际上，在这样的环境下，许多时候放大器都无法提供维持规定电平所需的功率，而一旦放大器过载，还会造成更多的测试问题。