CVU测量概述

图2是简化的4210-CVU和4215-CVU模型。器件的电容通过提供AC电压,测量AC电流和相位来确定,同时在器件中应用或扫描DC电压。

使用4200A-SCS参数分析仪进行最佳电容和AC阻抗测量

图2. 简化的CVU图

时域AC值被处理到频域中,生成相量形式的阻抗。CVU使用自动平衡电桥(ABB) 方法测量电容。ABB用来抵消DUT 一个端子( 如果AC电流表在LCUR上则为LPOT) 上已知频率的AC信号,以警戒杂散阻抗。这个AC接地会把CVU的LPOT保持在0 VAC,这样测试电路中的所有AC电流都会流到AC电流表,而不会经过测试电路中的任何并联电容。

根据测试设置,包括频率、AC驱动电压和电流范围,CVU可以测量皮法级到毫法级电容。用户指定的测试范围取决于被测器件和导出的参数。测试频率范围为 1kHz~10MHz。DC 偏置功能是 ±30V(60V差分 )。

测量模型和参数

DUT测量的典型模型通常是一条串联或并联电阻电容(RC) 电路。如图3中简化的模型所示,CVU既可以作为串联配置(RSCS) 测量DUT,也可以作为并联配置(RPCP) 测量DUT。

使用4200A-SCS参数分析仪进行最佳电容和AC阻抗测量

图3. 简化的测量模型

CVU可以测量和显示以下参数:阻抗和相位角(Z,Theta),电阻和电抗 (R+jX),并联电容和电导(CP-GP),串联电容和电阻(CS-RS),并联电容和杂散因子 (CP-D),串联电容和杂散因子(CS-D),导纳和相位角(Y,theta)。

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