17、Dendritic Growth 枝状生长：
指电路板面两导体之间在湿气环境中，又受到长期电压（偏压）的影响，而出现金属离子性之树枝状蔓延生长，最后将越过绝缘的板材表面形成搭接，发生漏电或短路的情形，谓之“枝状生长”。又当其不断渗入绝缘材料中时，则称为Dendritic Migration 或 Dentrices。
18、Deviation 偏差：
指所测得的数据并不好，其与正常允收规格之间的差距，谓之 Deviation。
19、Eddy Current涡电流：
在PCB业中，是一种测量各种皮膜厚度的工作原理及方法，可测非磁性金属底材之非导体皮膜厚度（如铜面的树脂层或绿漆厚度）当在一铁心的测头（Probe）上绕以线圈，施加高频率振荡的交流电（100KHz~6MHz），而令其产生磁场。当此测头接触待测厚的表面时，其底金属层中（如铜）会被感应而产生“涡电流”，此涡电流的讯号又会测头所侦测到。凡表面非导体皮膜愈厚者，其阻绝涡电流的效果愈大，使测头能接受到的讯号也愈弱。反之膜愈薄者，则测头能接受到的讯号愈强。因而可利用此种原理对非导体皮膜进行测厚。一般可测铝材表面的阳极处理膜厚度，铜箔基板上的基材厚度，及任何类似的组合。一般电路系统中也会产生涡电流，但却为只能发热而浪费掉的无效电流。
20、Dish Down 碟型下陷：
指电路板面铜导体线路上有局部区域，因受到压合时不当的圆形压陷，且经蚀刻后又不巧仍留在线路上，称为“碟陷”。在高速传输的线路中，此种局部下陷处会造成阻抗值的突然变化，对整体功能不利，故应尽量设法避免。
21、Edge-Dip Solderability Test板边焊锡性测试：
是一种电路板（ 或其它零件脚）焊锡性的简易测试法，可将特定线路的样板，在沾过助焊剂后，以测试机或手操作方式夹住，垂直慢慢压入熔融的锡池内，停留1~2秒后再以定速取出，洗净后可观察板子表面导体或通孔的沾锡性情形。
22、Eyelet 铆眼：
是一种青铜或黄铜制作的空心铆钉，当电路板上发现某一通孔断裂时，即可加装上这种“Eyelet”，不但可维持导电功能，亦可接受插焊零件。不过由于业界对电路板品质的要求日严，使得补加 Eyelet 的机会也愈来愈少了。
23、Failure 故障，损坏：
指产品或零组件无法达成正常功能之情形。
24、Fault 缺陷，瑕疵：
当零组件或产品上出现一些不合规范的品质缺点，或因不良因素而无法进行正常操作时，谓之Fault。
25、Fiber Exposure 玻纤显露：
是指基材表面当受到外来的机械摩擦、化学反应等攻击后，可能失去其外表所覆盖的树脂层（Butter Coat），露出底材的玻纤布，称为“Fiber Exposure”，又称为“Weave Exposure织纹显露”，在孔壁上出现切削不齐的玻纤束则称为玻纤突出（Protrusion）。