46、Misregistration 对不准，对不准度：
在电路板业是指板子正反两面，其应相互对齐的某些成员（如金手指或孔环等），一旦出现偏移时，谓之“对不准”。此词尤指多层板其各通孔外，所套接各层孔环之间的偏歪，称之为“层间对不准”，在微切片技术上很容易测量出其“对不准度”的数据来。下图即为美军规范 MIL-P-5511D 中，于 “对不准” 上的解说。此词大陆业界称为“重合”或“不重合”
47、Nick 缺口：
电路板上线路边缘出现的缺口称为 Nick。另一字 Notch 则常在机械方面使用，较少见于 PCB 上。又 Dish-down 则是指线路在厚度方面的局部下陷处。
48、Open Circuits 断线：
多层板之细线内层板经正片法直接蚀刻后，常发生断线情形，可用自动光学检查法加以找出，若断线不多可采小型熔接（Welding）“补线机”进行补救。外层断线则可采用选择“刷镀” （Brush Plating） 铜方式加以补救（见附图）。在现代要求严格的品质下，此等修补工作都要事先得到客户的同意，且相关文件都要存盘，以符合 ISO-9002精神。
49、Optical Comparater 光学对比器（光学放大器）：
是一种将电路板实物或底片，藉由光线之透射与反射，再经机器之透镜放大系统或电子聚焦方式，由显示屏得到清晰的画面，以协助目视检查。如图所示美国 OTI 公司出品之Optek 104机种，其成像即可放大达 300 倍，且有直流马达驱动的 X、Y 可移台面，能灵活选取所要观察的定点。此种“光学对比器”之功能极多，可用于检查、测量、沟通讨论等，皆十分方便。另如程序打带机上亦装有较简单的“学对比器”，俾能放大对准所需寻标的孔位，以使正确的打出 X 及 Y 数据的纸带来。
50、Optical Inspection 光学检验：
这是近10年来才在电路板领域中发展成熟的检验技术，也就是所谓的“ 自动光学检验 ” （AOI）。是利用计算机将正确的线路图案，以数字方式存在记忆中，再据以对所生产的板子，进行快速的扫瞄及对比检查。此法可代替目检找出短路或断路的异常情形，对多层板的内层板最有效益。但这种“光学检查”并非万能，免不了力有未逮之处，还须配合“电性测试”，方能加强出货板之可靠性。
51、Optical Instrument 光学仪器：
电路板在制程中及成品上的检查，常需用到某些与“光学”有关的仪器，如以“光电管”方式检测槽液浓度的监控仪器，又如看微切片的的高倍断层显微镜，或低倍立体显微镜，以及结合电子技术而更趋精密的“光学对比仪”、SEM、TEM等电子显微镜，甚至很简单的放大镜，皆属光学仪器。目前其等功能已日渐增强，效果也改善极多。不过此等现代化的设备价格都很贵，使得高级PCB也因之水涨船高。