图6 前置跨导放大器的电路实现
5 仿真结果
比较器的测试可采用动态失调测试平台（ DOTB） 进行，如图7 所示。此方法运用单位增益放大器、积分器的性质， 将比较器接入环路， 通过对测试精度的调整， 最终得到比较器的等效输入失调。
图7 动态失调测试平台框图
测试结果（ 图8） 表明： 加入消失调机制后， 多级比较器等效输入失调约为3μV（ 《4μV） ， 从而使比较器的精度达到了20 位。
图8 单级比较器动态失调测试结果。
通过对ADC 进行频谱分析， 测量其动态性能，即可反映ADC 的精度与线性度，并验证数字校准的效果。为避免频谱泄漏［7］， 加入的正弦激励信号的频率和采样频率应满足如下关系：
Fin、Fs 分别表示输入信号频率和采样频率， Npoint为采样点数， n 为正整数， 且n
图9 ADC正弦激励下的频谱分析（ a） 未校准（ b） 校准后。
6 结论
本设计通过由低到高依次校准电容阵列的方法， 改善了电容DAC 的线性度； 利用辅助输入端消失调技术， 将比较器的精度提高到设计所需的指标。
实现了18bit 的精度要求。采用了多级比较器各级一次性消失调的结构， 提高了ADC 的转换速度； 同时， 电容阵列DAC 的设计和运用使得较低的功耗成为本次SARADC 设计的另一优点。
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