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RF,无线相关技术文章关于3G LTE的系统测试和芯片测试方案随身wi-fi需要无线网卡吗?

RF,无线相关技术文章关于3G LTE的系统测试和芯片测试方案

LTE很重要的一个特性是具有超过100Mbps的高速下行传输速率,这就要求用户端设备(UE)和基站系统(eNodeB)有非常高的带宽并支持MIMO。同时作为一项新的技术,LTE引入了新的频段。此外,LTE不会很快取代现有的标准,所以在LTE和其它标准共存的时期,为达到更好的地域覆盖,LTE与现有标准之间的切换就变得至关重要。当然,现在的2G/3G经验告诉我们,消费者对终端电池待机时间的要求使低功耗也成为一个挑战。最后eNodeB厂家还必须保证系统的按时交付使用。这些都对3G LTE的系统测试和芯片测试提出了很大挑战,具体体现在以下几个方面:

1. 20M带宽对调制技术带来挑战。20M带宽在746MHz(目前3GPP规范中最低的频率)频率上占到了2.7%,EVM指标在边缘的恶化使这项测试变得非常重要。

2. MIMO技术。对MIMO的性能评估对测试技术提出了新的要求,这是上一代测试设备无法支持的。

3.多种技术标准并存。FDD/TDD、WCDMA/HSPA、CDMA2000/1X-EVDO、GSM/EDGE等等,如此多标准的共存带来了信号处理和功耗方面的难题,特别是如何测试在不同标准之间的切换,成为一个重大挑战。

4.高速传输速率。如何对100Mbps的数据链路提供充足的处理能力也是一个挑战,特别是在还要求控制功耗和散热问题的情况下。比如,PC卡、USB软件狗、PDA和集成在笔记本电脑中的模块,将来都可能成为最早的LTE终端,它们的功耗和散热问题是必须解决的最基本问题。

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