今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从混合压缩/内置自我测试解决方案的应用优势分析，全新s3p863axzz-qz8a s3p863axzz 嵌入式处理器芯片 集成电路 ic这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章混合压缩/内置自我测试解决方案的应用优势分析
作者：明导公司Ron Press
扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG（自动测试向量生成）。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于进行分析并改进。随着集成电路尺寸的增长并且制造工艺的规模越来越小，嵌入式压缩被加入了扫描 DFT（可测性设计）逻辑，从而将测试时间缩短了多个数量级。如今，嵌入式压缩已经十分常见。
但是，当很少有或没有可用的测试仪界面时，有些设备必须进行测试。在这种情况下，内置自我测试 （BIST） 十分有必要。最近，集成电路在安全关键型应用（如汽车应用和医疗应用）方面的增长已经带动了内置自我测试的需求增长。但越来越多的集成电路会同时需要这两种不同类型的测试。嵌入式压缩和逻辑内置自我测试使用了类似的逻辑方法，因此通过在混合测试解决方案中共享压缩和内置自我测试逻辑来节省 DFT 逻辑面积就变得十分合理。DFT 和每项技术的基础架构也能为其它技术带来优势。这种混合压缩/内置自我测试解决方案不仅能够节省 DFT 面积，还能带来更好的测试质量。