今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从基于2600系列的IDDQ测试过程与功能实现，dk1203 东科电源ic ***12w方案这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章基于2600系列的IDDQ测试过程与功能实现
测试介绍
此测试涉及在输入端处于VDD或VSS并且输出端未连接时，测量CMOS IC的VDD电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测试设置框图。在这个例子中，2601/2602用于源电压（VDD）并测量产生的静态电流。
图1. 测量一个CMOS反相器的静态电流
虽然这个例子示出的IC只有一个栅极，但是许多IC具有数以千计的栅极。因而，通常要使用预定的一系列测试向量（即施加至输入端的逻辑1和0的模式）减少静态电流的测量次数，并且必须保证全部栅极都被切换或者所需IC逻辑状态都经过测试。
在整个测试中对IC的VDD引脚施加恒定电压使IC保持在工作状态。一个好的CMOS器件仅在开关时从VDD电源消耗大电流；在静态条件下的耗电流极低。与涉及的缺陷类型有关，一颗有瑕疵IC的IDDQ将会高得多。测量时，将测试向量施加至IC输入端，然后经过规定的建立时间后，测量产生的电流。完成测量后，将测量电流与预设阈值相比较以确定器件通过还是失效。此阈值通常设定为微安或纳安级而且通常由多颗完好IC的IDDQ统计分析确定。随着器件变得越来越复杂，IDDQ测试不能总是用简单阈值测试执行。在某些情况下，必须对被测器件（DUT）进行IDDQ数据统计分析以便可靠地确定通过/失效状态。2600系列源表非常适于这两种测试方案。