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便携式技术的发展使人们越来越依赖蜂窝电话、PDA和导航系统这类便携式装置。随着处理器技术的不断进步,过去几年中大容量存储器件的设计和开发呈指数级增长。例如,从苹果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano产品,重新设计的关键部件不是速度更快的处理器,而是采用闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器的正确设计和测试。

在开发和测试存储器件方面,工程师面临着许多挑战。要获得更低的消费价格,就要不断削减测试成本和时间。一直以来,设计团队不得不为每个设计购买或租赁昂贵的高端存储器测试设备。而PC的普及和FPGA技术的发展则催生出一种用于验证存储器件的新型、低成本测试设备。基于PC的混合信号平台,诸如图1所示的PXI(用于仪器的PCI扩展)测试系统,可以安装在工程师的桌面上并提供比其它方案成本更低的、测试所必需的功能。利用这些平台,工程师可以尽早测试其设计,并将测试贯穿到整个开发过程之中。

本文将探讨存储器测试解决方案的开发以及验证功能和物理连接所需的测试设备功能。并分析除了满足存储器基本功能测试之外,如何扩展测试能力。

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