今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从在DIC-8032集成电路测试系统上对L80C186-10进行测试，中央处理单元cpu处理器微集成电路这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章在DIC-8032集成电路测试系统上对L80C186-10进行测试
L80C186-10是一款具有极高集成度的16位微处理器，它把15“20个最常用的微处理器系统部件组合在一块芯片上，性能是标准80C186-10的2倍，由于集成了许多外部设备接口，因而使得系统结构得到了大大的简化。L80C186-10与iAPX86、88微处理器是目标代码相兼容的，并且还在现存的iAPX86、88指令集中加入了10种新的指令类型。本文对L80C186-10的内部结构及各部件功能块测试做了详细介绍。
电路结构与功能框图
L80C186-10具有复杂的内部结构，它将DMA部件、定时器部件、中断控制部件、总线控制部件、片选信号和准备就绪信号生成部件以及CPU集成在一块单芯片上。
L80C186-10 CPU具有4个16位通用寄存器（AX、BX、CX、DX），4个16位指针寄存器（SI、DI、BP、SP），4个16位段寄存器（CS、DS、SS、ES），1个16位指令指针和1个16位状态寄存器，以及1个6字节的预取指令队列和4字节的预存指令队列。取指令和执行指令是由分离部件、总线接口部件和执行部件各自完成的。
测试
随着设计和工艺的发展，在单块芯片上所能实现的集成度越来越高，一些器件在性能和功能方面都达到了更新、更高的水平。在这样的情况下，对集成电路测试技术的要求也越来越高，在集成电路研制过程中，测试环节占有举足轻重的地位，也越来越受到研制者的重视。通过测试验证版图能够进行故障定位，对工艺生产提供可行性建议，从而促进电路的研制开发。电路的测试包括功能测试、直流参数测试和交流参数测试几部分，其中，功能测试尤为关键。