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测量仪表相关技术文章基于LabView软件和模拟数据采集卡确定磁芯B-H回路特性

在设计含磁芯材料的电感元件时,工程师必须准确测出该材料的特性。磁芯的动态磁滞回路(或B-H曲线)包含了有关磁芯损耗和其它磁参数的有价值信息。不幸的是,商用的磁回路分析仪都很昂贵,不适合小规模研究实验室和制造商使用。本设计实例描述了一个虚拟仪器,它采用一台台式或笔记本计算机,结合一个模拟数据采集卡和National Instruments的LabView软件(7.1版以上)。使用时,软件提取B-H回路信息、磁芯损耗以及其它磁性参数,测量费用可以接受。

图1显示的是一个磁芯器件的测试装备。器件T1包括一个磁芯材料样品和两个匝数相等的绕组。一只精密电流检测电阻器R1用作激励电流的采样,该电流在磁芯中产生磁场。R1上的电压降与激励电流和磁场H成正比。由电阻器R2和电容器C1组成的网络对二次绕组中产生的电压作积分。C1上电压与磁芯中的磁通密度B成正比。实际上,R2的值应比工作频率下电容器C1的阻抗大得多。(根据教科书对电路的说明,建议两者的比率为100:1。)

基于LabView软件和模拟数据采集卡确定磁芯B-H回路特性

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