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测量仪表相关技术文章利用LabVIEW开发平台和单片机实现集成芯片测试仪的设计
引言
在高校电子类专业实验教学中，数字集成电路的使用十分频繁。学生每年在实验、课程设计和课外创新等实践活动中，需要使用大量的数字集成芯片，用以完成各种实验和设计任务。每次实验用过的芯片，只要未受损坏，原则上是可以再利用的，可以节省不少的实验成本。为使芯片能够重复使用，需要有效的工具检测芯片的好坏，因为故障芯片会给电路调试造成很大的麻烦，导致时间和精力上毫无意义的浪费。一般来说，芯片故障的测试可以选择以下3种方案，即专用集成电路测试仪，功能较强，但价格较贵，不利于普及；逻辑分析仪，操作复杂，使用不便；自制集成芯片测试仪，可以依据个性化需求定制系统功能，且成本较低，利于推广。通过比较，选择第3种方案，即自制集成芯片测试仪解决实验室芯片的测试问题。
根据多年数字电路教学和实验方面的经验，学生在不熟悉芯片性能，缺乏对芯片逻辑和时序关系的感性认识的前提下，设计和调试时往往会遇到不少困难，容易挫伤学习的信心。因此，在确定集成电路测试仪功能时，要求其不仅能完成常规逻辑和时序验证功能，而且要具有简单的逻辑分析功能，学生可以自由设计激励数据，通过波形图观察相应结果。整个测试与分析过程方便、快捷、直观，学生在测试芯片的同时，可以尝试各种输入观察其逻辑时序关系，验证与自己的预期设想是否一致，加深对芯片功能和数字电路理论的理解。