其主要优点较低的前期成本、较低WIP、低的编程与程序维护成本、高输出、容易跟随诊断、和快速完全的短路与开路测试。其主要缺点是不能确认材料清单（BOM， bill of material）是否符合在测单元（UUT， unit under test）、没有数字式确认、没有功能测试能力、不能调用固件（firmware）、通常没有测试覆盖指示、板与板线与线之间的可重复性、夹具成本、以及使用问题。
ICT将找出制造缺陷以及测试模拟、数字合混合信号的元件，以保证它们符合规格。许多设备具有编程在板（on-board）内存的能力，包括系列号、通过/失效和系统数据（genealogy data）。有些设备使得程序产生较容易，它是通过把工具嵌入到易于使用的图形用户接口（GUI， graphical user interfaces），和存储代码到一个专门文件来使得可以实现多版本测试和固件（firmware）变换容易的。有些设备具有复杂的仪器装备，它将确认UUT的功能方面，以及与商业可购买的仪器的接口。现在的测试设备具有嵌入的计算机辅助设计（CAD）接口和一个非多元环境来缩短开发时间。最后，有些测试机提供深入的UUT覆盖分析，它祥述正在测试或没有测试的元件。
ICT的主要优点是每个板的测试成本低、数字与功能测试能力、高输出、良好的诊断、快速和彻底的短路与开路测试、编程固件、缺陷覆盖报考和易于编程。其主要缺点是，夹具、编程与调试时间、夹具成本、预期开支和使用问题。
飞针测试机（flying-probe tester）在过去几年已经受到欢迎，由于在机械精度、速度和可靠性方面的进步。另外，现在对于原型（prototype）制造、低产量制造所要求的快速转换、无夹具测试系统的市场要求，已经使得飞针测试成为所希望的测试选择。最好的探针方案提供学习的能力（learn capability）以及BOM测试，它在测试过程中自动增加监测。探针的软件应该提供装载CAD数据的简便方法，因为X-Y和BOM数据在编程时必须用到。因为节点可访问性可能在板的一面不完整，所以测试生成软件应该自动生成不重复的分割程序。
探针使用无向量（vectorless）技术测试数字、模拟和混合信号元件的连接；这个应该通过使用者可用于UUT两面的电容板（capacitive plate）来完成。
飞针测试机的主要优点是，它是最快速的到达市场时间（time-to-market）的工具、自动测试生成、无夹具成本、良好的诊断和易于编程。主要缺点是低产量、局限的数字覆盖、固定资产开支和使用问题。
功能测试（functional test），可以说是最早的自动测试原理，在重要性上已经看到恢复活力。它是特定板或特定单元的，可用各种设备来完成。几个例子：